Comments 7
Спасибо за прекрасную статью, обязательно пишите ещё. Единственное, на что стоит обратить внимание, хабр — это не научный журнал, тут можно писать от первого лица и взаимодействовать с читателем. И в выводы добавить личное восприятие ситуации.
Это не пост.
Это шедевр прикладной научной мысли. Торжество дешевизны и "сердитости".
Я так полагаю, что в варианте фазовой линии сложно учесть вносимое влияние разъёмов. Если только учитывать измерения двух разных по длине линий. А вот резонансные измерения самое то, хотя они измеряют только на определённых частотах.
суть метода в том, что разъёмы как бы "вычитаются". Но следует использовать только такие разъёмы, которые не вносят значительного рассогласования. Крое того, метод будет работать, только если будет высокая повторяемость КПП. Поэтому обычно для измерения эпсилон этим методом используют hight perfomance end launch solderless connectors, так как они на большинстве линий дают очень низкий КСВ в широком диапазоне частот и обеспечивают отличную повторяемость.
Подобные методы крайне зависимы от точности изготовления тестовых топологий. А она обычно очень далека от идеала. По факту гораздо надёжнее ориентироваться на данные производителя материала.
Ну а если уж такая ситуация, что надо определить какой-то неизвестный материал - я бы взял простейшую ёмкостную структуру с мин. зависимостью от подтравов - например круг + известную индуктивность хорошей точности, и определил бы резонансную частоту на слабой связи. Дальше простейшие расчёты.
спасибо за публикацию! я очень рада видеть здесь СВЧ-коллег
Спасибо, отличная публикация! А мнимую часть диэлектрической проницаемости подобными методами мерить не пробовали?
Измерение диэлектрической проницаемости подложек